Generatory szybkich impulsów zakłócających - pole bliskie, kontakt
System do badania odporności na zakłócenia E1-SET i dodatkowe sondy i generatory 
The Immunity Development System helps you locate Burst / EFT and ESD vulnerabilities on your assembly and inside the device.
E1 SET: Immunity Development System - Zestaw do badania odporności

Firma LANGER EMV przygotowała specjalne zestawy przyrządów i akcesoriów do badania odporności na zakłócenia. Zestawy są przeznaczone dla inżynierów opracowujących nowe konsrukcje elektroniczne. Zestaw E1 umożliwia szybkie zbadanie płytek PCB pod względem odporności na pola E (Elektryczne) i H (magnetyczne). Konstrukcja i dobór elementów zestawu pozwalają na badanie płytek, obszarów, ścieżek, lub samych układów scalonych.
DANE TECHNICZNE Zestawu E1 SET - Zestaw do badania odporności na zakłócenia EMC
INSTRUKCJA OBSŁUGI do zestawu E1-SET (Immunity Development System)

S2-SET Sondy magnetyczne do zestawu badania odporności E1
S2 set Magnetic Field Probes for E1

Zestaw S2 zawiera aktywne i pasywne sondy pola magnetycznego. Służą one do pomiarów szybkich impulsów w urządzeniach i podzespołach elektronicznych narażonych na działanie zakłóceń.
Przebiegi BURST i zakłócenia ESD które mogą powodować problemy w działaniu badanych urządzeń są dostępne do analizy.
Sondy pola magnetycznego przesyłają mierzone sygnały do odbiornika z interfejsem optycznym SGZ 21. Zestaw S2-SET współpracuje z generatorem SGZ21 (zawartym w zestawie E1-SET)

Pobieranie plików S2-SET
Generatory pola E i H - badanie odporności na zakłócecnia EMC
Małe i poręczne generatory impulsów używane do wykrywania słabych punktów w testowanym urządzeniu
Zastosowanie generatorów impulsów zakłócajacych LANGER do praktycznego znajdowania najbardziej wrażliwych na zakłócenia obszarów na płytce PCB: materiał wideo przygotowany przez firmę LANGER
P1: DANE TECHNICZNE / P23: DANE TECHNICZNE (Instrukcja Obsługi P23 Mini Burst)



